Semion離子能量&離子流量分析儀用于測(cè)量真空腔室中等離子體的離子能量和離子流量。
該系統(tǒng)包括減速場(chǎng)能量分析(RFEA)多柵探測(cè)器(又稱(chēng)阻滯場(chǎng)RPA)、腔室整體連接裝置和控制單元及軟件。RFEA探測(cè)器安裝于一個(gè)電極底座上,方便的置于腔室中的任意位置,可在多種等離子源條件下使用,如電容耦合、電感耦合、ECR、DC、微波和遠(yuǎn)程源等。控制單元可提供所有需要的柵極偏壓,軟件可自動(dòng)掃描和控制測(cè)量。.
該產(chǎn)品的突出特點(diǎn)就是能夠?qū)?span style="font-family: "Microsoft YaHei";">RFEA探測(cè)器置于射頻偏壓表面上,并可以感知偏壓表面的Vdc。Impedans可以將RFEA探測(cè)器底座制作成晶圓大小的尺寸,測(cè)量作用于晶圓表面的離子能量和離子流量的均勻性。
不同尺寸底座探測(cè)器
應(yīng)用
Semion系統(tǒng)在研究和工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用十分廣泛:
等離子體工藝研究
· 真空鍍膜
· 表面工程
· 半導(dǎo)體
· 太陽(yáng)能/薄膜
RFEA 探測(cè)器安裝于腔室內(nèi)
系統(tǒng)配置
測(cè)量參數(shù):
離子能量范圍 0 - 2000eV max
離子流量 0.001 - 700mA/cm2
時(shí)間分辨頻率范圍 4Hz to 100 kHz
離子能量分布函數(shù)(IEDF)分辨率 +/- 1eV nominal
RFEA 探測(cè)器:
探測(cè)器直徑 33mm
底座直徑 標(biāo)準(zhǔn):70mm,100mm(4"),300mm(12") ,或按要求定制其它尺寸
底座厚度 5mm
安裝 探測(cè)器與底座一體化安裝
探測(cè)器殼體材料l 陽(yáng)極氧化鋁,不銹鋼,或按要求定制其它材料
探測(cè)器底座材料 陽(yáng)極氧化鋁,不銹鋼,或按要求定制其它材料
底座至腔壁連線長(zhǎng)度 標(biāo)準(zhǔn):650mm,可定制其它長(zhǎng)度
腔室整體連接裝置:
法蘭型號(hào) 標(biāo)準(zhǔn): CF40; 或定制其他型號(hào)
電子控制單元
電壓范圍 -600V to +600V (抑制電壓), -2000V to +2000V (柵極掃描電壓)
電流范圍 100pA to 60mA
通訊方式 USB 2.0
軟件
操作系統(tǒng) Windows 7以上
* 由直流偏壓決定
具體配置請(qǐng)參考產(chǎn)品手冊(cè)及致電010-88134534。
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